开发背景
是否可以测量超过±1度范围的广角倾斜？根据客户的需求，我们进行了开发。
传统的广角度测量需要使用三台位移计，测量三个点的高度后再进行角度换算。然而，这种方法需要三台位移计以及足够的安装空间，且目标物体必须有一定的尺寸，无法测量较小的目标物体。我们通过采用自动对准仪法的产品解决了这一问题。
特点
1. 超广角测量范围
2. 高速测量（10K采样）
3. 模拟（±5V）测量数据输出
产品信息
| 项目 | 超广角倾斜传感器 | |
| 型号 | WT-2600 | WT-2910 |
| 测量对象 | 光学平面（推荐反射率80%以上） | |
| 工作距离 | 48±4mm | 25±2mm |
| 测量范围 | ±10度※1 | ±15度※1 |
| 重复性 | 0.4分※2 | 0.4分※3 |
| 线性度※4 | ±3% of F.S.（相当于±36分） | ±2.5% of F.S.（相当于±45分） |
| 波长 / 光束直径 | 660±10nm / φ1mm | |
| 采样 | 10,000次/秒 | |
| 外形尺寸（不包括凸出部分） | W160 D230 H60mm | |
※1. 圆形范围
※2. 我公司标准样品安装在48mm位置进行测量。根据我公司检查规定，使用NI PCI-6221 AD板以25kS采样1秒，经过3000Hz(-3dB)巴特沃斯低通滤波器，取3σ值。
※3. 我公司标准样品安装在25mm位置，并在原点附近进行测量。根据我公司检查规定，使用NI PCI-6221 AD板以25kS采样1秒，经过3000Hz(-3dB)巴特沃斯低通滤波器，取3σ值。
※4. 我公司标准样品安装在W.D.位置进行测量时的误差，表示与理想直线的偏差。测量对象可能会有所不同。
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