开发背景
在自动对准仪法的倾斜测量之外，是否可以同时进行位移测量？根据客户的需求，我们进行了开发。
最初，该产品是为了测量硬盘头浮起时产生的倾斜而开发的，但现在已广泛应用于智能手机等设备上，用于自动对焦（AF）执行器的测量。
特点
1. 同时测量位移和倾斜【专利第5330114号】
2. 通过一个光束，从一个方向同时测量位移和倾斜
3. 高速测量（10K采样）
产品信息
| 项目 | 位移倾斜传感器 | |||
| 型号 | VH-1100 | HT-8490N | ||
| 测量对象 | 光学平面（推荐反射率80%以上） | |||
| 工作距离 | 60±0.5mm | 90±0.5mm | ||
| 测量项目 | 倾斜（θX,θY） | 位移（Z） | 倾斜（θX,θY） | 位移（Z） |
| 测量范围 | ±60分※ | ±1.5mm | ±90分※ | ±4mm |
| 采样 | 10,000次/秒 | |||
| 外形尺寸（不包括凸出部分） | W125 D150 H56mm | W155 D180 H56mm | ||
※圆形范围
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