【CIOE 2026：中国深圳】CPO・光电融合×精密对准｜KOS参展通知
Katsura Opto Systems（KOS）将参加CIOE 2026中国国际光电博览会。
您是否希望以非接触方式直接测量微小倾斜、高度和平行度？
在CPO、光电融合及半导体制造领域，光纤、芯片、晶圆和光学部件等都需要高精度对准。
使用KOS光学测量传感器，可在以下工序中以非接触方式测量微小倾斜、高度和平行度，并在设备内部对测量值进行数字化管理。
- 光纤耦合——测量光纤及光学部件的微小角度
- CPO／硅光子——实时测量Tilt和Height
- 半导体及贴合设备——测量贴合面的平行度和倾斜
- 自动对准——直接测量微小角度并进行反馈
- 在线检测——通过小型传感器在设备内部进行测量
现场展示的测量方案及产品
- 将小型传感器安装到设备内进行在线测量
TM-2070 超小型倾斜传感器 - 以非接触方式高精度测量微小倾斜
HR-1100 高分辨率倾斜传感器 - 测量两个相对表面的平行度
KW-0007 平行度传感器 - 一台设备同时测量Tilt和Height
SH-3200 一体型位移倾斜传感器 - 在±5°宽范围内测量倾斜
ST-0001 一体型倾斜传感器
欢迎带着“这个工序的倾斜能否测量？”这一问题来到现场。
您可以现场观看和操作实机，并了解测量原理及使用方法。诚邀您莅临10号馆10D29展位。期待与您相见。
展会概要
日期：2026年9月9日（星期三）至11日（星期五）
会场：Shenzhen World Exhibition & Convention Center（中国・深圳）
展区：信息通信展（Information and Communication Expo）
展位号：10号馆／10D29
参展位置：苏州秋奥光电科技有限公司展位内
希望我们的技术能够为光电融合及半导体相关的研发、评估和检测工作提供帮助。